• 同惠TH2883S8-5TH2883-1脈沖式線圈測(cè)試儀簡(jiǎn)介

• TH2883系列產(chǎn)品是同惠研發(fā)的脈沖式線圈測(cè)試儀產(chǎn)品線。可完整提供低壓30V到高壓10kV，單通道到多通道（最大8通道）系列線圈測(cè)試儀解決方案。

  該產(chǎn)品線采用當(dāng)前主流32bit CPU和高密度 SMD貼裝工藝，65k色的7寸寬屏TFT顯示器。操作功能簡(jiǎn)潔易用，顯示界面清新亮麗。低30V，最高10kV涵蓋寬范圍脈沖電壓，低至1uH電感量的線圈測(cè)試，高達(dá)200Msps的采樣率，6k Bytes的存儲(chǔ)深度，讓您的測(cè)試“無(wú)微不至"。

  TH2883系列根據(jù)輸出電壓不同分為T(mén)H2883-1、TH2883-5、TH2883-10三種單通道輸出的型號(hào)。TH2883-1是低電感脈沖式線圈測(cè)試儀，具有低30V、最高1200V的脈沖電壓，可測(cè)試低至1uH電感量的線圈，是開(kāi)關(guān)電源等所用電感線圈的理想測(cè)試產(chǎn)品。TH2883-5具有100V-5000V的寬范圍脈沖電壓，是測(cè)試各種線圈的標(biāo)配產(chǎn)品。TH2883-10具有最高10kV的脈沖輸出電壓，可測(cè)試更高絕緣耐壓的匝間測(cè)試。若配備TH28831匝間絕緣多路掃描儀可將上述三款單通道測(cè)試儀擴(kuò)展為10通道。

  TH2883系列還提供了4通道與8通道兩款多路測(cè)試的一體機(jī)，他們所對(duì)應(yīng)的型號(hào)分別為T(mén)H2883S4-5和TH2883S8-5供用戶(hù)靈活選擇。

  TH2883系列產(chǎn)品標(biāo)配USBHost、RS232C、USB Device和LAN接口，既方便您圖形的快速保存，又方便您進(jìn)行遠(yuǎn)程控制。

同惠TH2883S8-5TH2883-1脈沖式線圈測(cè)試儀功能特點(diǎn)

A. 線圈性能分析

線圈類(lèi)產(chǎn)品（如變壓器、電機(jī)等）由于繞線材料、磁性材料、骨架、加工工藝等因素的影響會(huì)產(chǎn)生線圈層間、匝間及引腳間等絕緣性能的降低。TH2883系列脈沖式線圈測(cè)試儀通過(guò)比較被測(cè)線圈的衰減振蕩波型與標(biāo)準(zhǔn)波形來(lái)判定該繞組的電感、品質(zhì)因素（Q值）、繞組的圈數(shù)差、匝間層間短路，在有導(dǎo)磁材料的情況下還能判斷其材質(zhì)的差別，高壓脈沖下電暈放電的發(fā)生還可以對(duì)繞組層間或多個(gè)繞組間絕緣不良進(jìn)行判定。

圖A-1中的自激振蕩衰減波形直接和線圈的電感值 L 及品質(zhì)因素 Q 值有著密切的關(guān)系，而 L 值及 Q 值又和線圈的圈數(shù)、制造工藝、是否空心線圈并且還與導(dǎo)磁材料特性又有著不可分割的關(guān)系。由于施加電壓是高壓脈沖電壓，因此，線圈短路、匝間局部短路或由于絕緣損傷引起的層間或匝間電暈放電現(xiàn)象自然很容易被發(fā)現(xiàn)。

B. 四種波形判斷方法

a) 面積比較方法

如圖 B-1 所示，在任意指的 A～B 區(qū)間內(nèi)對(duì)被測(cè)線圈測(cè)試波形面積進(jìn)行(積分)計(jì)算，并與標(biāo)準(zhǔn)波形在此區(qū)間內(nèi)的面積進(jìn)行比較，用這兩個(gè)波形面積的差異值與標(biāo)準(zhǔn)波形在此區(qū)間的面積的百分比作為判定依據(jù)，判定基準(zhǔn)用百分比來(lái)設(shè)定。

波形面積近似的與能量損失成正比，所以可以使用面積比較方法來(lái)判斷線圈中的能量損耗，有效的檢測(cè)線圈層間和匝間短路。

b) 面積差比較方法

如圖 B-2 所示，在任意定 A～B 區(qū)間內(nèi)對(duì)被測(cè)線圈測(cè)試波形和標(biāo)準(zhǔn)波形的 Y 軸方向的差異值進(jìn)行計(jì)算(積分計(jì)算的結(jié)果為 A～B 區(qū)間內(nèi)的陰影部分)和標(biāo)準(zhǔn)波形在此區(qū)間的面積比較，基準(zhǔn)用百分比來(lái)設(shè)定。

面積差比較方法主要表現(xiàn)了電感量 L 的差異和能量的損耗，這個(gè)比較方法可以有效的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)線圈和被測(cè)線圈的電感量 L 的差異。

c) 電暈比較方法

如圖 B-3 所示，與波形的差異無(wú)關(guān)，在任意定的 A～B 區(qū)間內(nèi)，僅在被測(cè)線圈測(cè)試波形包含的電暈放電尖峰中檢出高頻成分進(jìn)行無(wú)損提取，并將計(jì)算結(jié)果與設(shè)定值進(jìn)行比較， 判定電暈放電量是否合格，設(shè)定值是一個(gè)整數(shù)。

此方法對(duì)線圈內(nèi)部絕緣性能反應(yīng)明顯。對(duì)于線圈絕緣性能要求高的場(chǎng)合需要使用電暈比較方法，因?yàn)榻^緣性能的好壞直接影響線圈產(chǎn)品的使用壽命到長(zhǎng)短。

d) 相位差比較方法

如圖 B-4 所示，用戶(hù)可以定一個(gè)需要作比較的過(guò)零點(diǎn)，儀器判斷被測(cè)線圈測(cè)試波形和標(biāo)準(zhǔn)波形在這個(gè)過(guò)零點(diǎn)的偏移量，然后和標(biāo)準(zhǔn)波形的振蕩周期作比較，并用這兩個(gè)量的百分比作為判斷依據(jù)，基準(zhǔn)用百分比來(lái)設(shè)定。如圖中，A～B 間是偏移量，C～D 間是標(biāo)準(zhǔn)波形振蕩周期，設(shè)定的是比較波形的第3個(gè)過(guò)零點(diǎn)。

此方法主要用來(lái)反映電感量差異。線圈不良可以用相位差來(lái)判別。

面積比較主要是根據(jù)能量損失，能夠很有效地進(jìn)行層間短路和圈對(duì)圈的檢測(cè)，而電暈則是以發(fā)現(xiàn)線圈內(nèi)部絕緣缺陷為目的的檢測(cè)方法。另外需要考慮電感值問(wèn)題的話，可以增加面積差來(lái)比較判定。

磁芯材料差異可以用面積、面積差和電暈方法來(lái)判別。對(duì)馬達(dá)、螺線管、繼電器等大部分線圈，采用面積比較和電暈測(cè)試方法。

C. 破壞測(cè)試功能

通過(guò)對(duì)線圈施加上升步進(jìn)電壓，結(jié)合電暈放電的情況來(lái)判斷被測(cè)件的極限耐壓值。

• 技術(shù)參數(shù)

• 型號(hào)		TH2883-1	TH2883-5	TH2883-10	TH2883S8-5	TH2883S4-5
  脈沖電壓		30V-1200V 5V步進(jìn)±5%±5V	100V-5000V 10V步進(jìn)±5%±15V	500V-10kV 20V步進(jìn)±5%±25V	100V-5000V 10V步進(jìn)±5%±15V	100V-5000V 10V步進(jìn)±5%±15V
  通道數(shù)		1	1	1	8	4
  電感測(cè)試范圍		≥1uH	≥10uH	≥20uH	≥10uH	≥10uH
  脈沖能量		最大 0.02焦耳	最大 0.25焦耳	最大 0.5焦耳	最大 0.25焦耳	最大 0.25焦耳
  測(cè)量速度		6次/秒	6次/秒	3次/秒(10kV電壓時(shí))	6次/秒(單通道)	6次/秒(單通道)
  施加脈沖數(shù)		最大到32個(gè)
  輸入阻抗		5MΩ
  顯示器		800x480點(diǎn)65k色TFT，波形顯示范圍600x256
  波形采集		采樣率: 最高200Msps,   8級(jí)可調(diào)分辨率: 8 Bits存儲(chǔ)深度:6k Bytes樣本平均:1-32
  判定方法		?面積比較 ?面積差比較 ?電暈放電 ?相位差比較
  波形測(cè)量		波形的電壓、波形的頻率、波形的時(shí)間
  觸發(fā)方式		手動(dòng)觸發(fā)、外部觸發(fā)、總線觸發(fā)，內(nèi)部觸發(fā)
  判別輸出		OK/NG 顯示，LED 燈指示，蜂鳴器報(bào)警
  測(cè)量統(tǒng)計(jì)		具有測(cè)量結(jié)果的統(tǒng)計(jì)功能
  存儲(chǔ)器		儀器內(nèi)部可以存儲(chǔ)20組標(biāo)準(zhǔn)波形和儀器設(shè)置也可以使用U盤(pán)作為外部存儲(chǔ)器
  接口		Handler,RS232C,USB Device,USB Host，Lan
  電源
  供電電源		110V/220V±10% 50Hz/60Hz±5%
  電源功耗		≤200VA
  通用條件
  工作環(huán)境	溫度	0℃ - 40℃
  	濕度	≤75% R.H.
  安全和電磁兼容		IEC61010-1:2001,IEC61326-2-1:2005